Согласование технического задания (ТЗ) на расчёт
- Габаритные характеристики:
- Линейное увеличение проектируемого микрообъектива V=-20 крат
- Числовая апертура в пространстве предметов не менее A=-0.75
- Линейное поле в пространстве предметов 2y=1 мм
- Оптическая длина тубуса ∞ (fтл=160 мм)
- Заднее фокусное расстояние f '=8 мм
- Положение входного зрачка в бесконечности
- Положение выходного зрачка (от плоскости объекта) произвольно
- Суммарная высота оптической системы не более 33.00 мм
- Наличие плоскости расположения фазовой пластинки не обязательно
- Расчетная толщина покровного стекла 0.17+-0.02 мм
- Свободное рабочее расстояние не менее 0.7 мм
- Потребительские характеристики:
- Предназначается для работы на микроскопах в проходящем свете и отраженном свете (при люминесценции)
- Основной рабочий спектральный диапазон 400-700 нм
- Основные способы работы - визуальное наблюдение
- Выпускаемые варианты исполнения объектива безыммерсионный, светлопольный
- Выпускаемые варианты исполнения оптики основной, люминесцентный
- Высота объектива 45 мм
- Присоединительная резьба стандартная
- Аберрационные характеристики:
- Расчетная расфокусировка в плоскости предмета не допускается
- Допустимая расчетная расфокусировка в плоскости изображения совместно с тубусной системой не более 1.3 мм для линии e , не более 1.8 мм для линии C', не более 2.3 мм для линии F' (по Гауссовым пучкам)
- Тип ахроматической коррекции - полуапохромат
- ХРУ - не более 1%
- Тип коррекции плоскостности – полуплан
- Расчетные характеристики качества (в пространстве изображений) должны быть не хуже приведенных в таблице:
| Число Штреля | |
| 0.16 | в плоскости установки |
| 0.31 | в плоскости установки |
| 0.48 | в плоскости установки |
| 0.69 | в плоскости установки |
| >80 | |
- Технологические характеристики:
- Количество линз в объективе не более 8
- Количество используемых марок стекол не более 4
- Наличие проблемных стекол допускается не более двух
- Наличие стекол, не имеющих прямых зарубежных аналогов, не допускается
- Расчетная допустимая децентрировка компонентов не жестче 0.01 мм (0.005 для 20% деталей)
- Расчетное отступление по толщине для одиночных линз не жестче 0.01 мм
- Требование патентной чистоты - обязательное
Обсудим подбор оборудования, разработку оптики или конфигурацию микроскопа
Если вам нужен не просто каталог, а профессиональный разговор о задаче, конфигурации и инженерных ограничениях, команда Labor-Microscopes готова подключиться к обсуждению.